人類智慧促進了科學技術的不斷發展，從而開始了我們對現有空間的無限探索。

從宇宙天空到微觀世界，我們沉迷于浩瀚星河的壯麗，癡迷于微觀材料世界的奇妙引力。

沒有什么能阻止我們探索。今天，我們將利用掃描電子顯微鏡進入材料的微觀領域，感受科技的力量！

首先，讓我們簡要了解什么是掃描電子顯微鏡？它帶領我們探索微觀世界的優勢是什么！

掃描電子顯微鏡

掃描電鏡（Scanning Electron Microscope ,簡稱SEM)使用電子束逐步掃描樣品表面，與樣品功能產生各種信號，通過檢測器接收、放大并轉換為調制信號，更后反映樣品表面的各種特征，具有強烈的三維感。

掃描電子顯微鏡的原理①

掃描電子顯微鏡是集電子光學技術、真空技術、精細機械結構和現代計算機控制技術于一體的復雜系統。

結構: SEM 主要由電子光學系統、電子系統、顯示部件和真空系統組成。

電子光學系統：主要包括電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室。

電子系統：主要包括電源系統和檢測系統。電源系統主要是指各部件的電源，如加速電壓電源、透鏡電源和光電倍增管電源。檢測系統主要由探測器、信號放大器和電信號處理器組成。

顯示部件：主要是顯像管，通過顯像管將處理后的信號轉換為圖像顯示。

真空系統：真空系統為電子光學系統提供必要的高真空，保證電子束的正常掃描，防止樣品被污染。

掃描電子顯微鏡的特點

1. 放大倍數高，20倍-20連續可調一萬倍；

2. 景深大，視野大，圖像分辨率高，成像立體感強。可直接觀察各種樣品表面凹凸不平的細微結構，獲取與形狀對應的各種信息；

3. 導電材料可直接放入樣品室進行分析，導電性差或絕緣樣品需噴涂導電層；

4. 樣品制作簡單，可直接觀察大尺寸樣品的原始表面，輻照對樣品表面的污染較小；

5. 擴展附加功能，如與EDS聯用可以分析材料的成分。

在我們對SEM經過一點詳細的了解，下一步將重點介紹其在微材料領域的應用，看看能給我們呈現出哪些很具價值的景觀！

檢測實驗室在材料和零件檢測中具有豐富的掃描電子顯微鏡技術應用經驗：

金屬材料分析涉及金屬材料斷裂故障分析、金屬材料表面缺陷分析、金屬材料微區化學成分分析等；

對于非金屬材料，包括材料納米尺寸檢測、材料表面形狀觀察和測量、涂層表面形狀分析和涂層厚度測量、材料微區域化學成分分析等。